GB 4938-1985 半导体分立器件接收和可靠性
作者:标准资料网
时间:2024-05-02 02:45:05
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基本信息
| 标准名称： | 半导体分立器件接收和可靠性 |
| 英文名称： | Acceptance and reliability for discrete semiconductor devices |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体分立器件综合 |
| 替代情况： | 作废; |
| 发布部门： | 国家标准局 |
| 发布日期： | 1985-02-06 |
| 实施日期： | 1985-11-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 起草单位： | 电子部第十三研究所 |
| 出版日期： | |
| 页数： | 8页 |
适用范围
本标准列出了适用于半导体分立器件的电耐久性试验方法，可以从中选择使用。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体分立器件综合
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