SJ 1267-77 半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法
作者:标准资料网
时间:2024-04-28 00:09:49
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基本信息
| 标准名称： | 半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法 |
| 英文名称： | Thermal resistance measurements of sinks for semiconductor devices under natural air cooling conditions |
| 中标分类： | 机械 >> 机械综合 >> 技术管理 |
| 发布日期： | 1977-12-26 |
| 实施日期： | 1978-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 5页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 机械 机械综合 技术管理
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