DIN 41792-1965 用于通讯技术的半导体元件.测试方法.准则
作者:标准资料网
时间:2024-05-18 21:16:37
浏览:8174
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordevicesfortelecommunication;generalprinciplesofmeasuringmethods,precautions
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.测试方法.准则
【标准号】:DIN41792-1965
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1965-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;测量技术;政策;电气工程;半导体器件;电子工程
【英文主题词】:policy;semiconductordevices;electricalengineering;measuringtechniques;semiconductors;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2400
【页数】:1P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.测试方法.准则
【标准号】:DIN41792-1965
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1965-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;测量技术;政策;电气工程;半导体器件;电子工程
【英文主题词】:policy;semiconductordevices;electricalengineering;measuringtechniques;semiconductors;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2400
【页数】:1P;A4
【正文语种】:德语
下载地址:
点击此处下载