GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-07 22:31:11
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基本信息
| 标准名称： | 半导体单晶晶向测定方法 |
| 英文名称： | Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal |
| 中标分类： | 冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： | 电气工程 >> 半导体材料 |
| 替代情况： | 替代GB 1555-1979;GB 1556-1979;GB 5254-1985;GB 5255-1985;GB 8759-1988;被GB/T 1555-2009代替 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1997-01-02 |
| 实施日期： | 1998-08-01 |
| 首发日期： | 1979-05-26 |
| 作废日期： | 2010-06-01 |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 归口单位： | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 峨嵋半导体材料厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：8， 字数：12千字 |
| 书号： | 155066.1-14909 |
适用范围
本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的晶体的表面取向。
前言
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所属分类： 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法 电气工程 半导体材料
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