GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
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时间:2024-04-30 09:45:15
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基本信息
标准名称: | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 |
英文名称: | Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 光电子器件 >> 光电子器件组合 |
ICS分类: | 电子学 >> 光电子学、激光设备 |
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
发布日期: | 2003-01-01 |
实施日期: | 2004-08-01 |
首发日期: | 2003-11-24 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 信息产业部(电子) |
提出单位: | 中华人民共和国信息产业部 |
归口单位: | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
起草单位: | 华禹光谷股份有限公司半导体厂 |
起草人: | 陈兰、那仁、王守华 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2004-08-01 |
页数: | 16开, 页数:27, 字数:48千字 |
书号: | 155066.1-20664 |
适用范围
本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 电子元器件与信息技术 光电子器件 光电子器件组合 电子学 光电子学 激光设备
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